硅片測試去哪里做?中化所材料檢測中心可提供硅片測試服務，為CMA資質認證機構，高新技術企業，針對產品研發、質量控制中遇到的問題，提供成分檢測、產品檢測、產品檢測、儀器檢測等綜合解決方案，儀器齊全，科研團隊強大，7-15個工作日可出具檢測報告，支持掃碼查詢真偽，全國上門取樣、寄樣檢測服務，檢測周期短、檢測費用低、檢測數據科學準確!

測試周期：7-15個工作日

測試費用：工程師根據客戶檢測需求以及實驗復雜程度制定實驗方案進行報價。

硅片測試范圍

單晶硅片，太陽能硅片，光伏硅片，半導體硅片，切割硅片，鍍膜硅片，清洗硅片，拋光硅片等。

硅片測試項目

電阻率測試，翹曲度測試，厚度測試，表面粗糙度測試，燃燒測試，彎曲度測試，平整度測試，絨面反射率測試，碳氧含量檢測，壓電系數測試，ECV測試，負載測試，硬度測試，抗彎強度測試，晶圓測試，表面雜質測試，表面有機物測試，少子壽命測試，顆粒度測試，表面接觸角測試等。(更多項目需求，您可咨詢在線實驗室工程師，為您詳細解答。)

中化所測試報告有哪些作用?可以幫您解決哪些問題?

1、銷售使用。(銷售自己的產品，出具第三方檢測報告讓客戶更加信賴自己的產品質量)

2、研發使用。(研發過程中，遇到一些比較棘手的問題，通過檢測報告數據來解決問題，從而縮短研發周期，降低研發成本)

3、改善產品質量。(通過對比檢測數據，發現自身產品問題所在，提高產品質量，降低生產成本)

4、科研論文數據使用。

5、競標，投標使用(中化所檢測周期比較短，檢測費用低，認可度比較高，特別適合投標使用)

硅片測試標準

GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片

GB/T 26068-2018 硅片和硅錠載流子復合壽命的測試　非接觸微波反射光電導衰減法

GB/T 37051-2018 太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法

GB/T 32814-2016 硅基MEMS制造技術　基于SOI硅片的MEMS工藝規范

GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測試方法

GB/T 32280-2015 硅片翹曲度測試自動非接觸掃描法

GB/T 32281-2015 太陽能級硅片和硅料中氧、碳、硼和磷量的測定　二次離子質譜法

GB/T 30859-2014 太陽能電池用硅片翹曲度和波紋度測試方法

GB/T 30860-2014 太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法

GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化　測試方法

GB/T 30701-2014 表面化學分析　硅片工作標準樣品表面元素的化學收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測定

GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度測量方法

GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測試　自動非接觸掃描法

GB/T 6616-2009 半導體硅片電阻率及硅薄膜薄層電阻測試方法　非接觸渦流法

GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定　擴展電阻探針法

GB/T 6618-2009 硅片厚度和總厚度變化測試方法

GB/T 6619-2009 硅片彎曲度測試方法

中化所檢測有什么優勢?為什么要選擇中化所?

1、中化所是集體所有制檢測機構。

2、初檢樣品。

3、全國多家實驗室分支，支持上門取樣/寄樣檢測。

4、檢測周期短，檢測費用，實驗方案齊全。

5、資質齊全，實驗室儀器齊全，科研團隊強大。

6、36種語言支持編寫MSDS服務

中化所寄樣檢測流程

1、寄樣

2、初檢樣品

3、報價

4、雙方確定，簽訂保密協議，開始實驗

5、7-15個工作日完成實驗

6、出具檢測報告，后期服務。

以上是關于硅片測試的相關介紹，如有其他需求可以咨詢實驗室工程師幫您解答。