標準編號：GB/T 11072-2009銻化銦多晶、單晶及切割片
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
標準簡介：本標準規(guī)定了銻化銦多晶、單晶及單晶切割片的產(chǎn)品分類、技術要求和試驗方法等。本標準適用于區(qū)熔法制備的銻化銦多晶及直拉法制備的供制作紅外探測器和磁敏元件等用的銻化銦多晶、單晶及切割片。
英文名稱： Indium antimonide polycrystal,single crystals and as-cut slices
替代情況： 替代GB/T 11072-1989
中標分類： 冶金>>半金屬與半導體材料>>H83化合物半導體材料
ICS分類： 電氣工程>>29.045半導體材料
發(fā)布部門： 中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局 中國國家標準化管理委員會
發(fā)布日期： 2009-10-30
實施日期： 2010-06-01
首發(fā)日期： 1989-03-31
提出單位： 全國半導體設備和材料標準化技術委員會
材料實驗室
熱門檢測
712
309
588
766
375
457
772
554
326
249
353
270
301
261
1250
233
354
312
470
277
推薦檢測
聯(lián)系電話
400-635-0567
掃一掃關注公眾號
