掃描電子顯微鏡(SEM-EDS)
廠家： FEI
型號：QUANTA FEG 450
技術指標
功能：場發(fā)射環(huán)境掃描
加速電壓 ：200V ～ 30kV
較小分辨率：5nm
主要功能
可應用于各種材料的研究，進行結構和成分表征。可以得到檢測材料的表面像和成分像，并輔以其他檢測來確定材料的性質(zhì)和元素組成。具有高真空、低真空和ESEM環(huán)境真空三種真空模式，分析樣品范圍廣泛，從傳統(tǒng)的金屬材料、斷口和拋光斷面，到不導電的軟物質(zhì)。
可用于表征測量亞微米尺寸的樣品，適用于新能源薄膜材料組成、形貌和成膜質(zhì)量的高精度觀測，納米材料樣品表面的觀測，多層鍍膜材料的制作工藝和缺陷分析，各種材料表面腐蝕及缺陷分析等。
上一篇：X射線光電子能譜（XPS-EDS）下一篇：氣相色譜-質(zhì)譜儀
材料實驗室
熱門檢測
532
2735
495
678
475
553
483
519
444
551
416
381
376
410
484
404
362
392
587
418
推薦檢測
聯(lián)系電話
400-635-0567
掃一掃關注公眾號
